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電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)主要面向大專(zhuān)院校教學(xué)使用。用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋測(cè)定其離面位移。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無(wú)損測(cè)量、振動(dòng)測(cè)量等。
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